设备名称：

TriStar II 3020高性能多通道全自动比表面积及孔隙度分析仪

设备简介：

TriStar II 3020是美国Micromeritics Instrument Corporation公司生产的一款高性能多通道全自动比表面积及孔隙度分析仪。可以进行材料比表面积、孔径分布、孔体积等的测试。分析范围为：材料比表面积 0.01 m²/g至已知无上限，孔径分析范围0.35-500 nm。可测试吸-脱附等温线，提供BET、Langmuir比表面积，BJH、DFT平均孔径分布和孔体积等数据。适用于各种固体材料的研究与产品测试，包括测量沸石、分子筛、碳材料、二氧化硅、氧化铝、土壤、岩石、固态高分子、有机金属化合物骨架结构等各种材料。广泛应用于催化、吸附、环境、建筑等领域。

技术参数：

1.        配备6站样品预处理系统，温度范围：室温-400摄氏度；

2.        可同时和独立分析三个样品，P₀站和各气路配有独立的压力传感器（分辨率≤0.05 mmHg）；

3.        分析范围：比表面积：0.01 m²/g至无已知上限；孔径分析范围：3.5 Å to 5000 Å；

4.   等温线测试温度：77 K（液氮环境）。

5.        吸附质：氮气。

6.        仪器软件包含了目前所有的数据处理方法，提供以下数据处理模型：BET比表面积，Langmuir表面积；BJH 孔径分布，Dubinin-Radushkevich 微孔面积；总孔体积：由用户选取可选的 P/P₀ ；平均孔径：半径，直径； 统计壁厚（t-曲线）：de Boer， Halsey或碳黑模型；T-plot法：微孔表面积，中孔表面积，微孔体积，相关系数；微孔孔径分布：MP，HK，SF，DA，DFT/NLDFT。